膜厚測量儀-上海昊量光電設(shè)備有限公司

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實驗室電子產(chǎn)品

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Filmetrics F20單點薄膜透明膜厚度測量儀
Filmetrics F20單點薄膜透明膜厚度測量儀可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計的特點，F(xiàn)ilmetrics F20 膜厚測量儀適用于各種應(yīng)用。

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膜厚測量儀（厚度范圍1nm~10mm）
膜厚測量儀（厚度范圍1nm~10mm），只需單擊鼠標(biāo)即可測量 1nm 至 10mm 的薄膜厚度。幾乎可以測量任何材料，直觀的設(shè)計意味著您可以在幾分鐘內(nèi)進行一次薄膜厚度測量！

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薄層方塊電阻測量儀-非接觸式
薄層方塊電阻測量儀-非接觸式：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀可以非接觸式實時測量，對導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。可用于方塊電阻，方阻測量，四探針測試，四探針方阻測量。

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非接觸式金屬膜厚測量儀
昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量，對導(dǎo)電薄膜的膜厚精確測量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。

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MProbe系列膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm）
膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm）美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級分辨率，非接觸式無損快速測量。廣泛應(yīng)用在各種生產(chǎn)或研究中，比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層，觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

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