| 品牌 | 昊量光電 | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
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| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
6433系列光波元件分析儀（10MHz～67GHz）
一、6433系列光波元件分析儀（10MHz～67GHz）概述
6433系列光波元件分析儀包括6433D（10MHz～26.5GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4個型號。6433系列光波元件分析儀是面向高速電光（E/O）器件、光電（O/E）器件、光光（O/O）器件特性測試的解決方案，調(diào)制頻率范圍覆蓋10MHz~67GHz，支持不同頻率范圍、頻率間隔、中頻帶寬的設(shè)置，頻率分辨率達到1Hz。6433系列采用一體集成的設(shè)計方案，通過寬帶硬件優(yōu)化設(shè)計，構(gòu)建網(wǎng)絡(luò)誤差模型，利用核心校準(zhǔn)算法，實現(xiàn)一鍵式寬帶快速掃頻測試，主要用于現(xiàn)代高速光傳輸系統(tǒng)中核心的電光器件（電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器、光發(fā)射組件）、光電器件（PIN光電探測器、APD光電探測器、光接收組件）、光光器件（光纖濾波器等光無源器件）的帶寬、幅頻響應(yīng)、相頻響應(yīng)、群時延等參數(shù)測試.
二、6433系列光波元件分析儀功能特點
校準(zhǔn)方便快捷，向?qū)讲僮髁鞒?/p>
一體化多功能操作界面
大動態(tài)測量范圍，測量軌跡噪聲小
用戶數(shù)據(jù)自動移除，為在片測試提供擴展使用
單端-平衡光電器件模式測量
多功能化工具箱
內(nèi)、外部光源波長設(shè)定，更寬的通信波長測試范圍
具備光源輸出功率快速自動校準(zhǔn)功能
三、6433系列光波元件分析儀功能描述
校準(zhǔn)方便快捷，向?qū)讲僮髁鞒?/span>
6433系列光波元件分析儀在校準(zhǔn)方面具有清晰的操作流程，主要包括電校準(zhǔn)和光路參數(shù)校準(zhǔn)，通過采用向?qū)讲僮魈崾緸橛脩籼峁┛焖俑呔刃?zhǔn)。
一體化多功能操作界面
6433系列光波元件分析儀具備了電電、電光、光電、光光四種測量模式，四種光電校準(zhǔn)模式，功能模式之間可任意切換，滿足目前絕大多數(shù)通用器件的S參數(shù)、阻抗、時域等參數(shù)測量需求。
大動態(tài)測量范圍，測量軌跡噪聲小
采用高精度和響應(yīng)平坦的內(nèi)部核心器件，結(jié)合設(shè)定不同的中頻帶寬值，可獲得更大的動態(tài)測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結(jié)果的更多細節(jié)。
用戶數(shù)據(jù)自動移除，為在片測試提供擴展使用
通過用戶自定數(shù)據(jù)或夾具去嵌入數(shù)據(jù)提升測量精度，尤其在片測試時所需的探針誤差移除時，使得測量更加靈活，滿足用戶不同場合的測量需求。
單端-平衡光電器件模式測量
儀器可通過選用不同的配置，滿足單端-單端和單端-平衡的光發(fā)射或光接收器件或組件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測量場合。
多功能化工具箱
光發(fā)射與光接收結(jié)構(gòu)一體化集成和功能互聯(lián)，內(nèi)置大動態(tài)范圍光功率計，可實時監(jiān)測輸入光功率數(shù)值，用于內(nèi)外光源功率校驗；通過設(shè)置，為M-Z型LiNiO3調(diào)制器提供所需的保偏光源。光接收模塊絕對頻率響應(yīng)大于-3dB，更好地提取微小信號；雙端口光接收測量，提供更寬的測量范圍選擇。
內(nèi)、外部光源波長設(shè)定，更寬的通信波長測試范圍
測試不僅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1610nm的外部光源輸入，覆蓋更寬的通信波長，滿足CWDM、DWDM系統(tǒng)核心器件測量需求。
四、6433系列光波元件分析儀主要參數(shù)
五、6433系列光波元件分析儀典型應(yīng)用
電光器件特性分析
電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試，通過多窗口對比分析，用戶能更快獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性。
光電器件頻率響應(yīng)特性測試
實現(xiàn)光電探測器等光電器件的10MHz~67GHz頻率響應(yīng)測試，3dB帶寬快速分析及精準(zhǔn)頻響測試可滿足科研、產(chǎn)品線等測試需求。
相頻響應(yīng)特性分析
產(chǎn)品具有強大的相頻響應(yīng)特性測量功能，快速分析光電器件相位、群時延等參數(shù)。
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