專用實驗設(shè)備_第(23)頁-上海昊量光電設(shè)備有限公司

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專用實驗設(shè)備

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多通道任意波形發(fā)生器（AWG）
昊量光電提供的多通道任意波形發(fā)生器（AWG）可以創(chuàng)造和產(chǎn)生任何可以設(shè)想的波形,其適用性和靈活性大大方便了人們的設(shè)計和調(diào)試.從外形結(jié)構(gòu)上看主要為兩種類型PCIe卡和generatorNETBOX每種類型具有多種型號,可以提供用戶多種組合,具有多通道,高采樣率,高電平,分辨率高等特性以滿足用戶的各種需求

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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SMART PRINT UVDMD無掩膜光刻機(jī)
DMD無掩膜光刻機(jī)SMART PRINT UV是一種基于DMD投影技術(shù)的無掩模光刻設(shè)備，可兼容多種電阻和基片。SMART PRINT UV可以生產(chǎn)任何微米分辨率的二維形狀，而不需要硬掩模。

型號：SMART PRINT UV 廠商性質(zhì)：代理商
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HoloPrint uniA6 DT滾筒式納米壓印機(jī)
滾筒式納米壓印機(jī)HoloPrint uniA6 DT是一種負(fù)擔(dān)得起的、便攜的、易于使用的桌面設(shè)備，用于實驗室尺度的納米壓印光刻工作。這款壓印機(jī)是快速成型、測試和表征結(jié)構(gòu)性能、光固化樹脂和印跡材料設(shè)備。典型的應(yīng)用范圍包括印刻、芯片實驗室、衍射光學(xué)元件和其他納米印刻結(jié)構(gòu)。HoloPrint®uniA6 DT在其自身的保護(hù)環(huán)境中工作，因此，潔凈室所需的投資可以分配到其他地方。

型號：HoloPrint uniA6 DT 廠商性質(zhì)：代理商
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OPTIMIC系列通用型光纖聲傳感器/光纖麥克風(fēng)
以色列Optoacoustics公司OPTIMIC系列光纖麥克風(fēng)/光纖聲傳感器，基于光纖光子探測器原理，能夠在傳統(tǒng)傳感器無法使用的位置，精確測量聲音、振動、壓力和其他關(guān)鍵物理特性。通用型光纖聲傳感器/光纖麥克風(fēng)

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L1大疆激光雷達(dá)禪思
大疆激光雷達(dá)禪思L1激光可見光融合解決方案，方案由Livox 激光雷達(dá)、測繪相機(jī)、高精度慣導(dǎo)、三軸云臺等模塊組成，搭配經(jīng)緯 M300 RTK 和大疆智圖，形成一體化航測解決方案。

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寬譜空氣耦合超聲源
熱激發(fā)聲源（Thermal Acoustics Emitter，TAE）是一種*的空氣耦合超聲源。TAE可以在很寬的頻帶內(nèi)產(chǎn)生狄拉克形聚焦超聲波。基于快速放電原理，設(shè)備沒有任何活動部件。因此對于惡劣工作環(huán)境有很好的適應(yīng)性。搭配同樣沒有活動部件的高精度光學(xué)麥克風(fēng)，可以用于材料的非接觸式超聲檢測以及聲譜檢測。寬譜空氣耦合超聲源

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XROS MF30全功能X射線顯微鏡
研究型X射線顯微鏡XROS MF30，使用具有比可見光短的波長的X射線作為探針，獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統(tǒng)也集成光學(xué)顯微鏡，X射線攝影，局部元素XRF微分析，元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

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IMOS納米表面輪廓儀
IMOS納米表面輪廓儀實現(xiàn)了精確、定量、iso兼容、非接觸式表面測量和表征微和納米尺度的表面特征，在短短幾秒鐘內(nèi)可捕獲多達(dá)200萬個數(shù)據(jù)點(diǎn)。選擇正確的光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)取決于您的應(yīng)用程序的要求，包括速度、精度、垂直范圍、自動化和靈活性。

型號：IMOS 廠商性質(zhì)：代理商
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NIOS納米機(jī)械測試/原位納米壓痕儀
NIOS納米機(jī)械測試/原位納米壓痕儀是實現(xiàn)超過30種不同的測量技術(shù)的全能系統(tǒng)，涵蓋了亞微米和納米尺度所有類型的物理和機(jī)械性能測量。通過NIOS壓痕儀控制軟件，可以實現(xiàn)高度自動化的測量，允許終端用戶配置任何測量方案，無需操作員干預(yù)即可執(zhí)行。這一特性對于材料質(zhì)量的技術(shù)控制特別有用。有了這個新增的功能，NIOS既可以用于研究工作，也可以用于工業(yè)應(yīng)用。

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超分辨光學(xué)顯微鏡（SMAL微球放大技術(shù)）
超分辨光學(xué)顯微鏡（SMAL微球放大技術(shù)）采用*進(jìn)的微球技術(shù)（SMAL），突破光學(xué)衍射極限，實現(xiàn)超分辨（100nm）光學(xué)成像?？蓮V泛應(yīng)用于生物顯微成像、半導(dǎo)體檢測、地質(zhì)礦物研究等。

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陰極發(fā)光儀/顯微鏡
昊量光電新推出用于微電子、半導(dǎo)體、絕緣材料、地質(zhì)學(xué)和礦物學(xué)材料測量的法國NewTec陰極射線顯微鏡。陰極發(fā)光是一種光譜方法，它可以在局部尺度上識別缺陷和雜質(zhì)，這些缺陷和雜質(zhì)與被電子槍轟擊的材料的發(fā)光特性有關(guān)。陰極發(fā)光儀/顯微鏡

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精密阻抗分析儀
6632 精密阻抗分析儀，提供 6 種頻率選項（10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz），可以進(jìn)行交流信號的LCR測試，測試頻率和測試級別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測量?？稍诓煌瑴y試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測試。

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