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激光測(cè)量設(shè)備

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紫外和藍(lán)光污染測(cè)量?jī)xX1-3
紫外和藍(lán)光污染測(cè)量?jī)xX1-3不關(guān)心晝夜節(jié)律的可能中斷。只有通過(guò)眼角膜并在視網(wǎng)膜上成像的輻射才與藍(lán)光危害評(píng)估相關(guān)。設(shè)備有適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)和必要的測(cè)量技術(shù)對(duì)光危害的評(píng)定可能顯得尤為重要。

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高幀頻時(shí)間分辨相機(jī)（1.6ns）
高幀頻時(shí)間分辨相機(jī)（1.6ns）是一款高速光學(xué)相機(jī)，具有納秒光子響應(yīng)。高幀頻時(shí)間分辨相機(jī)基于一款新型的硅像素傳感器，采用專用集成電路和讀出器相結(jié)合。高幀頻時(shí)間分辨相機(jī)適合電子、離子或單光子時(shí)間分辨成像的廣泛應(yīng)用。

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模擬PIID激光伺服控制器 T-PIID-NN01
模擬PIID激光伺服控制器 T-PIID-NN01廣泛用于低噪伺服控制激光器和其他精密實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。模擬PIID激光伺服控制器內(nèi)部實(shí)現(xiàn)兩級(jí)積分緊密鎖定，使用戶能夠自由配置伺服循環(huán)參數(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)被控對(duì)象如聲學(xué)和光電驅(qū)動(dòng)器、聲音變壓器、壓電驅(qū)動(dòng)器等的快速鎖定。

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光纖準(zhǔn)直器/耦合器
光纖準(zhǔn)直器/耦合器用于FC/PC貼片光纖的對(duì)準(zhǔn)。將準(zhǔn)直器（現(xiàn)貨供應(yīng)，NA高達(dá)0.275）與BeamTuning或其他光束整形元件相結(jié)合，可獲得任何所需的輸出光束，同時(shí)保持衍射限制的波面。

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雙向散射分布函數(shù)測(cè)量?jī)x
雙向散射分布函數(shù)測(cè)量?jī)x：實(shí)時(shí)測(cè)量雙向反射率(BRDF)或透光率(BTDF)分布函數(shù)、半球總反射率或透光率、功率譜密度(PSD)、表面粗糙度和角分辨散射。

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡(jiǎn)便地、高速地在大范圍區(qū)域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

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激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無(wú)損檢測(cè)
激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無(wú)損檢測(cè)是所有的光學(xué)模組和激光器集成在一個(gè)手持式，耐用和輕便的機(jī)殼中，接通電源，通過(guò)USB連接到電腦，就可以開(kāi)始檢測(cè)了。

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Matesy-STT系列軸扭紋光學(xué)測(cè)量?jī)x
軸扭紋光學(xué)測(cè)量?jī)x是用于生產(chǎn)制造現(xiàn)場(chǎng)快速判定軸類零件有無(wú)扭紋測(cè)量?jī)x器。通過(guò)相干照度在周期性微結(jié)構(gòu)上生成圓錐形衍射圖樣，對(duì)衍射線圖樣進(jìn)行目測(cè)或數(shù)顯評(píng)估。

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激光護(hù)目鏡
選擇激光護(hù)目鏡需要注意以下幾點(diǎn)：1. 需要進(jìn)行防護(hù)的激光器波長(zhǎng)范圍，2. OD值，光密度Optical Density：OD值越大，對(duì)相應(yīng)波長(zhǎng)范圍防護(hù)能力越強(qiáng)，3. VLT（可見(jiàn)光透過(guò)率）：VLT數(shù)值低于20%，需要在一定照明的環(huán)境中進(jìn)行使用。4. Frame（指的是鏡框類型）：面部輪廓等信息。

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Oosight成像系統(tǒng)——紡錘體觀察儀
Oosight成像系統(tǒng)——紡錘體觀察儀：Oosight成像系統(tǒng)采用核心的LC-PolScope™技術(shù)，能夠提供一種特別的能力，可以在不使用外源性染料或標(biāo)簽的情況下，提供紡軸裝置和三層透明帶的高對(duì)比度定量圖像。

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在線方塊電阻測(cè)試儀
EddyCus TF inline在線方塊電阻測(cè)試儀可以測(cè)量薄層的性能，如金屬層厚度，薄層電阻，輻射系數(shù)，殘余水分或在各種基材上的非接觸克重。相關(guān)基材有玻璃、箔、紙、晶圓片、塑料或陶瓷。通過(guò)常駐測(cè)量或觸發(fā)事件進(jìn)行監(jiān)測(cè)，以在快速移動(dòng)的涂層過(guò)程中獲得等距離的結(jié)果。檢測(cè)解決方案可以在大氣或真空條件下實(shí)施?；陔姕u流技術(shù)的檢測(cè)過(guò)程高采樣率更高?？梢允褂每蛻舻能浖檫^(guò)程控制系統(tǒng)提供測(cè)量結(jié)果。

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非接觸式薄層電阻測(cè)試儀
非接觸式薄層電阻測(cè)試儀：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測(cè)量的非接觸式方阻測(cè)量?jī)xEddyCus TF Series，這款非接觸式方塊電阻測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測(cè)量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。

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